一、介電常數(shù)儀概述：

LJD-A高頻 介電常數(shù)介質損耗儀 系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據采集和tanδ自動測量控件（裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。介電常數(shù)介質損耗儀 器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用LJD-A/B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。

二、介電常數(shù)儀主機及夾具參數(shù)：

三、常測材料及符合標準：

固體絕緣材料,絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等。

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測試方法；

四、標準配置：